Исследование обратного тока полупроводниковых источников света при форсированных испытаниях

• Средняя оценка доклада

  3.9

  Материаловедение и нанотехнологии

  Кафедра ФЭ

  ФЭ-1203 Спектральные методы анализа тонких диэлектрических пленок

  Исследование обратного тока полупроводниковых источников света при форсированных испытаниях

  Целовальникова Анастасия

  Затрагивая проблему продолжительности работы и долговечности светодиодов, стоит обсудить влияние обратного тока на характеристики излучения. Обратный ток не является основным параметром светодиода, но при проведенных измерениях была выявлена сильная зависимость обратного тока от температуры, что связанно с деградацией светодиода. Целью данного исследования является изучения хода зависимости обратного тока от времени испытаний светодиода.

  Исследование обратного тока полупроводниковых источников света при форсированных испытаниях